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冷热冲击试验箱
高低温冲击试验箱主要应用于半导体器件、电子产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。
立式两箱结构,高低温箱循环过程自动控制,停留及转换时间可调,不锈钢内胆,多形式记录,设有多种安全保护措施及装置。
满足MIL-STD-810D方法032、GB2423.22-89Na、GJB1505-86等。
执行与满足标准
.GJB150.5-86温度冲击试验
.GB2324.22-89试验Na
.GB2423.1-89试验A低温试验方法
.GB2423.2-89试验B高温试验方法
.GJB360.7-87温度冲击试验
.GJB367.2-87温度冲击试验
适用范围
主要用于电工、电子产品、材料及各种零部件的高低温冲击试验和周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。
基本特点
.内胆采用不锈钢板、外壳采用冷轧钢板静电粉末喷涂
.中空电热膜玻璃观察窗
.两箱式上下结构:上部为高温箱,下部为低温箱,两箱之间由样品架连结,经传动机构在两箱间移动。循环过程自动控制,停留及转换时间可调。
.工作室设有照明装置
.具有累计计时功能
.采用进口可编程程序控制器
.完善的保护报警功能:具有短路、漏电、工作室**温;压缩机**压、过载、油压、断水
标准配置及选配件
.标准配件:50测试孔、照明灯、观察窗、记录仪
.可选配件:RS232(RS485)通讯接口及计算机、打印机
冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验,是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性,是装备设计定型的试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验,在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。
评估电子元器件或其它测试样品经温度变化或温度连续变化环境下所受之影响。
冷热冲击试验机
温度范围: -65℃~+150℃
设备内尺寸: 720*600*600(W*D*H)
参考测试标准:
IEC 60068-2-14:2009;
Environmental testing-part2-14:tests-test Na: change of temperature
GB2423.22-2002
电子电工产品环境试验 二部分:试验方法 试验Na:温度变化
冷热冲击试验箱适用于是航空、汽车、家电、科研等领域*的测试设备,考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品,在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能,使用的适应性,适用于学校、工厂、和研位等位。
三箱式冷热冲击试验箱 冷热冲击试验箱适用于是航空、汽车、家电、科研等领域*的测试设备,考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品,在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能,使用的适应性,适用于学校、工厂、和研位等位。
冷热冲击试验箱特点
1、具有USB功能,带RS232介面,曲线软体不需记录仪;
2、具有真空玻璃观察视窗,更有效的直接观察功能。
3、冷媒伺服阀流量演算控制.省电30%,有驻流时间休眠功能,节能50%以上;
4、控制器防电干扰获SGS咨询;具32数位以上软程匹配,具有*多次开发和软体升级功能,
5、通过ISO-9001的品质咨询(中国台湾大陆)
6、除霜週期(800个迴圈除霜一次,每次除霜保证在2小时以内,整合试验达到25%的节能省电)
冷热冲击测试
温度变化类试验项目有众多名称:
温度变化、温度循环、温度交变、快速温变、温度冲击、冷热冲击、温度梯度、分级温度等名称。且不同体系的标准中应用的试验方法是不同的,如何区分这些试验项目,如何选择试验项目,这需要对各类型试验的来源以及其区别进行分析。
冷热冲击试验有两种方式:气体法和液体法
气体法有两种实现方式,一种为手动转换,将产品在高温箱和低温箱之间进行转换;另一种为冲击试验箱,通过开关冷热室的循环风门或其它类似手段实现温度转换。其中温度上限、温度下限为产品的存储极限温度值。液体法实现方式为吊篮式,将产品放置在吊篮中按照要求浸入不同的温度液体中。则适用于玻璃-金属密封及类似产品。
冷热冲击试验是一个加速试验,模拟车辆*量的慢温度循环。对应实际车辆温度循环,用较快的温度变化率及更宽的温度变化范围,加速是可行的。失效模式为因老化和不同的温度膨胀系数导致的材料裂化或密封失效。本试验将导致机械缺陷(裂缝),不要求带电工作。
在特定时间内进行快速温度变化,转换时间一般设定为手动2~3 分钟,自动少于30 秒,小试件则少于10 秒。常用术语中的温度冲击试验也属于冷热冲击试验。
此试验有几个重要参数需要考虑:循环数、温度转换时间、温度保持时间、温度极限值(因此项试验为存储类试验,故其极限值为存储极限温度值)。参考参数设置如表所示,具体的循环数来源为加速模型计算出来的一个经验数值。
参考标准
GB/T2423.22环境试验 2部分:试验方法 试验N:温度变化
GJB150.5设备环境试验方法_温度冲击试验
GJB360.7电子及电气元件试验方法 温度冲击试验
GJB367.2通信设备通用技术条件 环境试验方法
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