清远第三方检测实验室冷热冲击测试价格优惠

冷热冲击试验箱的作用和特点，冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，*工业、**、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的必不可少的一项测试箱。
冷热冲击试验箱的特点有：1.产品外形美观、结构合理、工艺、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。设备分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采*特之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物静止，应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的.
2.采用采用的计测装置,控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单,学习*,稳定可靠,中，英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟,循环周期1~999次可设定,可实现制冷机自动运转，大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行;
3.箱体左侧具一直径50之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。
4.具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角;完备的安全保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，保证设备的长期可靠性
5.可设定循环次数及除霜次数自动(手动)除霜.出风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为10秒内完成，贝尔冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。
6.冷冻系统采用复迭低温回路系统设计，冷冻机组采用原装进口压缩机，并采用对臭氧系数为零的绿色环保(HFC)制冷剂R507，R23.强安全保护功能:电源过载保护、漏电保护、控制回路过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、温保护、报警声讯提示等。

冷热冲击试验箱又名高低温冲击试验箱，冷热循环试验箱；用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，*工业、**、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具
执行满足标准及试验方法
GJB150.5 温度冲击试验
GJB360.7温度冲击试验
GB/2423.22 温度冲击试验
冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验，是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。
冷热冲击试验作为一种测试方法，应用在产品研制的不同阶段时有不同的目的：
1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷；
2、产品定型或设计鉴定和批产阶段验收决策提供依据；
3、作为环境应力筛选应用时，目的是剔除产品的早期故障。
常见的执行标准
1、GJB 150《设备环境试验方法》
2、GB 2423《电工电子产品基本环境试验规程》

冷热冲击试验又名冷热冲击试验或高低温冲击试验，是将试验样品交替暴露于低温和高温空气（或合适的惰性气体）中，使其经受温度变化的影响。用以确定元件，设备和其他产品经受环境温度*变化的能力。温度冲击试验是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。
温度冲击试验参考标准：
GB/T 2423.22; IEC 60068-2-13；IEC 60068-2-14; EIA-364-32; MIL-STD-202；GJB 150.5等。
温度冲击试验的目的：
1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷；
2、产品定型或设计鉴定和批产阶段验收决策提供依据；
3、作为环境应力筛选应用时，目的是剔除产品的早期故障。
温度冲击试验应用领域：
道路交通类：道路车辆电子电气设备、轨道交通机车车辆设备与装置、汽车零部件等
计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、设备等精密仪器等
电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等，PCB、PCBA。
电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备、仪器仪表、器械；
其他：包装箱、运输设备等。
设备型号：CJ602S3 Ⅰ
试验温度范围：-75℃～200℃
高温设定范围：+60℃～+200℃
低温设定范围：0℃～-75℃
温变速率：≤5Min

冷热冲击测试需要满足很多试验标准，本文以液体式冷热冲击箱为例。
    1. GB/T2423.1-2001低温试验方法；
    2. GB/T2423.2-2001；
    3. GB/T2423.22-1989温度变化试验N；
    4. 标GJB150.3-86；
    5. 标GJB150.4-86；
    6. 标GJB150.5-86；
    7. GJB150.5-86温度冲击试验；
    8. GJB360.7-87温度冲击试验；
    9. GJB367.2-87 405温度冲击试验；
    10. SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式；
    11. 满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；
    12. GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；
    13. GB/T 2423.22-2002温度变化；
    14. QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则；
    15. EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。
 以上未提到的，关于冷热冲击测试中，引起温度变化及温度变化的现场条件在“GB/T 2423.22-2012 环境试验 2部分 试验N:温度变化”中有提到：
    温度变化的现场条件
    电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。当设备未通电时，其内部零件要比其外表面上的零件经受的温度变化慢。
下列情况下，可预见的温度变化：
    ——当设备从温暖的室内环境转移到寒冷的户外环境，或相反情况时；
    ——当设备遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷却时；
    ——安装于外部的机载设备中；
    ——在某些运输和贮存条件下。
    通电后设备中会产生高的温度梯度，由于温度变化，元器件会经受应力，例如，在大功率的电阻器旁边，辐射会引起邻近元器件表面温度升高，而其他部分仍然是冷的。
    当冷却系统通电时，人工冷却的元器件会经受的温度变化。在设备的制造过程中同样可引起元器件的温度变化。温度变化的次数和幅度以及时间间隔都是很重要的。
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